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  • 10-16
    2015

    驱动中国“智”造,美国国家仪器以集成式软硬件平台应对工业物联网挑战

      2015年9月15日,美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)在上海嘉里大酒店举办了驱动中国“智”造——走进工业物联网与大数据媒体见面会暨《工业大数据》新书发布会。此次会议旨在让用户了解工业物联网与大数据应用的**发展趋势,分享NI模块化、集成式嵌入式软硬件平台的独特优势,同时见证《工业大数据》新书发布。  现今工业4.0、智能硬件、物联网已经成为全球热门话题,并且伴随着《中国制造2025》规划的提出,传统制造业正在面临着“物联网”与“智”造转型的巨大挑战。NI作为全球**的图形化系统设计平台提供商,通过软硬件平台与物联网系统的集成,为整个物联网范围内设备和系统的测试、可嵌入到工业物联网的智能控制与监测系统以及实时数据分析和预测性维护提供业内**的解决方案。  为了满足不断变化的工业物联网需求,NI在此次会议上推出了基于开放、灵活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架构的全新嵌入式系统硬件和Watchdog Agent预诊工具包。LabVIEW RIO架构集成来自Intel和Xilinx的**嵌入式技术,提供一个完整的平台化解决方案,方便工程师能够快速进行系统设计、原型验证和*终部署嵌入式系统来实现工业物联网的**监测和控制应用。Watchdog Agent预诊工具包采用了一项获得**的分析技术和行业标准的分析技术,可在NI LabVIEW应用中添加易于使用的预诊和健康管理(prognostics and health management, PHM)算法和图形化显示功能。该工具包可以实现特征提取、主成分分析以及模式匹配,从而检测和预测从关键设备到电网等各种对象的故障。同时,它还可以帮助用户创建用户界面,轻松地将预测结果以及待测资产的分析信息传递给客户。  基于新技术的开发以及在工业物联网(IIoT)领域的持续投入,NI 的硬件和软件平台均可实现无缝集成物联网系统,并提供了独特的优势,包括:整个物联网范围的设备和系统测试,开发可嵌入到工业物联网的智能系统,以及实时分析数据以获得商业和工程洞察。美国国家仪器大中华区市场经理汤敏女士表示:“未来几年,将是 NI 由测试和测量公司转型至多元化的企业级系统公司的过渡时间,这主要是受到软件设计、信息物理或智能化以及大‘模拟’数据三大趋势的驱动。此外,NI还积极参与到各种合作伙伴和标准联盟来推动工业物联网的发展,同时也是工业物联网联盟(IIC)的成员之一,我们坚信该联盟将成为未来实现工业物联网愿景的主要联盟之一。”  与工业物联网发展息息相关的还有随之而来的大数据,如何处理这些数据?如何**使用这些数据?此次会议上美国辛辛那提大学(Univ.of Cincinnati) 李杰教授发布了**力作《工业大数据》。李杰教授指出工业大数据与工业物联网密不可分,工业大数据分析是未来工业在全球市场中发挥竞争优势的关键领域。企业通过数据分析,能够做出更明智的决策,从而提升企业运营效率、促进工业领域产业结构升级。李杰教授领导的美国智能系统维护中心(IMS 中心)通过与NI的紧密合作,开发了针对LabVIEW的Watchdog Agent预诊工具包,未来将致力于共同为工业物联网领域的设备监测及预测性诊断提供一体化解决方案。
  • 10-08
    2015

    NI亮相2015年汽车测试及质量监控博览会,全面展示车载测试系统平台化解决方案

      2015年9月17日— 美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)于日前参加了在上海光大会展中心举办的2015年汽车测试及质量监控博览会。在此次博览会上,NI联合多家业内合作伙伴,集中展示了NI为汽车行业提供的灵活开放式的测试平台与多样化的解决方案。  2015年是汽车测试及质量监控博览会举办的第十个年头,它已确立为向中国汽车工业展示确保质量、可靠性、耐久性和安全性的各种技术与服务的行业内头号展会。会上逾280家公司展示了自己的新产品,具体领域包括:发动机/排气测试;车辆动力学测试;材料测试以及碰撞测试等。NI也借助此次盛会向企业及大众展示了NI在汽车行业的技术优势与优质解决方案。  据了解,现今几乎所有的汽车OEM与一级供应商在各类测试应用中均有使用或集成了NI产品。通过为控制、设计和测试提供通用平台,NI 帮助用户节省了在汽车研发到生产各个阶段耗费的成本和时间。凭借业内**的I/O、灵活现成的硬件、强大**的LabVIEW开发环境,用户可以创建适合各种应用的解决方案。目前NI的产品在汽车行业涉及了车载测试和数据记录、硬件在环仿真、台架测试与控制、快速控制原型、生产线测试、车载信息娱乐系统测试等几大应用。  此次博览会上,NI着重展示了其业内权威的硬件在环仿真(HIL)技术方面的应用。NI通过其创新的低成本模块化硬件和软件平台帮助工程师和科学家设计并建立自己的HIL系统。硬件在环HIL仿真技术可以使用NI PXI实时控制器运行仿真模型来模拟受控对象的运行状态,配合NI FPGA模块可适应更高动态特性及更高精度的模型应用需求。NI硬件在环测试平台具有开放的软硬件技术架构,可以减少工程师的开发时间、成本和风险。在支持第三方硬件和软件建模工具的同时,NI还提供一系列高性能模拟和数字I/O设备, CAN、LIN和FlexRay总线接口,故障注入硬件等硬件,让客户可以**实现应用。基于开放的工业标准,用户总能将**的PC技术用在自己的HIL测试系统中。同时,HIL测试系统的可扩展性满足了多种快速变化的需求,以适应新技术发展所带来的测试挑战,例如目前新能源汽车及ADAS等。  此次联合参展的恒润科技是NI业内众多合作伙伴之一。他们开发的发动机控制器(EMS)硬件回路(HIL)测试系统便是基于灵活开放的NI软硬件设备。EMS HIL测试系统搭建了一个完整的“虚拟车辆”测试环境,能够在研发过程中对EMS进行验证,并且利用NI TestStand软件实现EMS的自动化测试。这套测试系统得益于NI硬件平台的开放性与稳定性以及VeriStand、TestStand软件系统的灵活性,缩短了产品开发周期,并在研发流程中可以对EMS的功能进行全面的测试和验证。除此之外,该系统广泛应用于汽车行业众多整车厂、零部件商的车型和产品研发过程。  NI多年来在汽车领域一直致力于研发灵活、高性能的产品,其开放式平台可以涵盖从原型搭建到生产测试的整个流程。中国目前已经成为全球的汽车市场,同时对于国际主要的汽车电子产品供应商来说,中国也都是他们的主要研发生产基地。汽车行业已经成为NI中国的重要客户市场之一。NI对中国的汽车电子行业市场充满信心,会继续针对业内用户的需求和应用方向,提供更加完善和前沿技术的解决方案。
  • 09-07
    2015

    NI**动手工程教育,唤醒下一代卓越工程师

      美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)于7月13日在冰城哈尔滨成功举办了第十一届NI全国高校教师交流会(Professor Day 2015)。今年教师交流会的主题围绕“Do Engineering—唤醒下一代**工程师”这一理念展开, 共吸引了来自全国25个省/直辖市、197所高校和25所高职院校的200多名教师参加。  中国正面临着制造业改革创新的趋势,在国务院发布的《中国制造2025》中,“创新驱动”与“人才为本”被列为了重要的战略方针。中国作为世界工程教育规模**的国家之一,探索“创新人才培养”是当前中国工程教育的一个重要课题。“NI院校计划”始终坚持“**工科学生真正实现从理论到实践”的价值观,为象牙塔内追求创新实践的学子们提供广阔的挑战自我舞台,也为这群未来工程师们提供实现设计构想的有效平台。  NI全国高校教师交流会(Professor Day)在中国已经成功举办了十一届。本届交流会邀请了国内**高校教师代表分享课程教学改革和科研项目实施经验,旨在为广大教师提供信息交流平台,共同提高相关专业教学的整体质量和科研水平。交流会现场还精心呈现了近40个现场演示,包含创新工程教学、学生创新实践、**科研、NI教学合作伙伴四大核心展区, 全方位展现了NI院校计划完善的生态体系。本届交流会更是联袂两年一度的第三届全国虚拟仪器大赛(决赛)同时举办,一方面拉近教师们与参赛选手的距离,更直接地感受中国新一代创新力量的**才能,另一方面则深入诠释了“唤醒中国下一代**工程师”的意义与途径。  7月13日,NI全球院校项目部门经理Ray Hsu先生以“Do Engineering-唤醒下一代**工程师”为主题演讲拉开了交流会的序幕。Ray Hsu先生向与会观众分享了工程教育改革、工程型人才培养的发展趋势以及NI就创新教学、**科研及**工程师培养三个不同方面所独有的理念和解决方案。“NI一直专注于培养学生动手创新能力,为帮助同学们可以随时随地进行动手实验,NI于去年创新性的推出了口袋实验室,一年时间里来自超过65个国家,800多家高校的学生们应用了该产品,创造了基于myDAQ和myRIO平台的众多优秀实验作品。” Ray Hsu先生表示。  为了让老师亲身体验NI的专业实践性平台, 7月15至16日NI还举办了针对参会教师的免费培训,内容包括LabVIEW软件和NI教学硬件,包括:多学科电路设计平台ELVIS、嵌入式开发平台myRIO、通信实验平台USRP。此外,活动中还组织参会教师观摩了哈尔滨工业大学与NI的联合虚拟仪器学生创新基地,现身实地诠释了NI在工程教育中从基础课程、专业课程再到创新实践和**科研中完整的解决方案。
  • 09-02
    2015

    NI推出全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015软件,帮助工程师解决大数据挑战

      美国国家仪器公司(National Instruments, 简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球*严峻的工程挑战的供应商,今日宣布推出了以下全新的硬件和软件来帮助工程师开发更智能的测量和数据管理解决方案:具有四核处理功能的全新4槽和8槽CompactDAQ控制器、全新的14槽USB 3.0 CompactDAQ机箱、DIAdem 2015和DataFinder 2015服务器版。  随着工程数据呈指数级增长,基于软件的智能化测量系统可帮助用户在采集过程中添加智能和处理功能,捕获*有必要的数据。 全新的4槽和8槽CompactDAQ控制器搭载Intel Atom E3845四核处理器作为控制器,可使用**版的LabVIEW2015系统设计软件进行编程,因此工程师和科学家可以通过添加数据处理、智能化和控制等功能来自定义其数据采集系统。新的控制器可运行Windows Embedded 7或NI Linux Real- Time操作系统,包含了32 GB非易失性存储和可移动SD存储,可帮助工程师开发更智能的数据记录和嵌入式监测应用。  全新的USB 3.0 CompactDAQ机箱可帮助用户将测量系统扩展到更高通道数的应用,而且不会降低数据传输速度。 该机箱可扩展至14槽,而且提供了USB 3.0数据流功能,结合LabVIEW软件不仅可在单个系统中处理当前数据采集需求,而且还可轻松进行扩展来满足未来需求。  如果要做出基于数据的重大决策,一个企业级的数据管理解决方案对于大数据的管理、分析和可视化是必不可少的。 NI发布的DIAdem 2015 64位软件可让用户加载和分析比以往更多的数据。 DataFinder 2015服务器版提供了多级查询功能,查询请求会发送到服务器全局,几秒钟内便可找到用户需要分析的数据。全新高性能CompactDAQ控制器的主要特性:内置Intel Atom 1.91 GHz四核处理器60多款具有集成信号调理功能的可热插拔I/O模块2个内置USB接口和千兆以太网端口、RS232串口、触发输入和用户按钮可移动SD存储器,轻松访问数据全新高通道数CompactDAQ机箱的主要特性:14槽,可将更多C系列I/O模块集成到单个系统中通过USB 3.0以超过250 MB/s的速率传输数据轻松调整现有NI-DAQmx代码,保留与当前CompactDAQ USB机箱相同的软件用户体验DIAdem 2015主要特性:64位版本,可在DIAdem环境中加载和分析更多数据优化的搜索功能,可全局查找特定的数据进行分析新的数据可视化和分析功能
  • 08-27
    2015

    NI通过全新无线测试系统降低无线生产测试成本

      作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球*严峻的工程挑战的供应商,今日宣布推出无线测试系统(WTS),一款可大幅降低批量无线生产测试成本的解决方案。 尽管面临日益增加的无线测试复杂性,企业仍可以借助经过测量速度优化和具有并行测试功能的系统来自信地降低测试成本,数倍提高生产车间的生产能力。“物联网(IoT)等大趋势将驱动更多的设备融合射频和传感器功能,过去此类设备的测试成本极其昂贵。 但是测试成本不应成为工程师创新或产品具备经济可行性的绊脚石,”Frost & Sullivan公司的测量和仪器项目经理Olga Shapiro表示, “为了维持未来的盈利能力,企业需要重新思考其无线测试方法,采用新的模式。 由于WTS是使用经业界验证的PXI平台开发的,而且受到NI的专业技术支持,我们预期该系统将对物联网产生重大的商业影响。”  WTS结合了**的PXI硬件,为多标准、多DUT和多端口测试提供了一个统一平台。 该系统结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列生成软件,可帮助制造商大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用效率。 WTS可轻松集成到生产线中,提供了可立即运行的测试序列来测试采用Qualcomm和Broadcom芯片的设备、集成式DUT和远程自动化控制。 借助这些特性,用户将可明显看到其RF测试设备的效率大幅提升,从而进一步降低了测试成本。“使用NI无线测试系统,我们可以在同一个设备上测试多种无线技术,包括蓝牙、WIFI、GPS和蜂窝。”HARMAN/Becker汽车系统公司的Markus Krauss表示, “WTS和NOFFZ的RF测试工程专业知识帮助我们显著减少了测试时间以及快速安装和运行测试系统。”
  • 08-20
    2015

    NIWeek 2015,以大数据开启物联网之门

      美国国家仪器公司(National Instruments, 简称NI)于2015年8月4日-6日在美国得克萨斯州**奥斯汀举办了一年一度的NIWeek全球盛会。3200多名业界代表参加了此次盛会,见证了NI通过平台化架构帮助客户将Big Analog Data进一步分析、控制,打造智能化系统,实现物联网实施落地的**理念。  NI始终致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球*严峻的工程挑战。NIWeek自举办20多年来,已经成为图形化系统设计领域的全球盛会,也成为了测试、测量与控制相关行业*为重要的前瞻性会议。此次NIWeek定位于工业物联网,介绍了物联网发展的关键技术及挑战,发布了NI针对物联网应用的**解决方案和软硬件产品,同时展示了令人耳目一新的具体应用案例,覆盖智能测量(Smart Measurement)、智能测试系统(Smart Test System)、智能电网(Smart Grid)、智能机器(Smart Machines)与智能发电(Smart Power Generation)五大核心领域。NI针对工业物联网(IIoT)推出新一代控制系统,基于开放、灵活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架构的全新嵌入式系统硬件  该硬件包含了以下三个控制器:高性能CompactRIO控制器,适用于需要系统坚固可靠、环境严苛的工业应用领域的工程师和系统集成商;FlexRIO控制器,适用于有便携需求的高性能嵌入式应用设计工程师;以及Single-Board RIO控制器,适用于需要提高嵌入式应用灵活性的设计工程师。这些控制器集成了来自Intel和Xilinx的**嵌入式技术,旨在帮助系统设计工程师和机器开发人员应对*严峻的控制和监测挑战。控制器基于SELinux ,完全受到LabVIEW软件、LabVIEW FPGA模块和NI Linux Real-Time的支持,为工业物联网应用提供了**的安全功能。全新无线测试系统(WTS)降低无线生产测试成本,基于PXI的无线测试系统进行了速度优化,可数倍提高生产车间的生产效率  WTS结合了**的PXI硬件,为多标准、多DUT和多端口测试提供了一个统一平台。该系统结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列生成软件,可帮助制造商大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用效率。WTS可轻松集成到生产线中,提供了可立即运行的测试序列来测试采用Qualcomm和Broadcom芯片的设备、集成式DUT和远程自动化控制。借助这些特性,用户将可明显看到其RF测试设备的效率大幅提升,从而进一步降低了测试成本。全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015软件,帮助工程师解决大数据挑战  全新的4槽和8槽CompactDAQ控制器搭载Intel Atom E3845四核处理器作为控制器,可使用**版的LabVIEW2015系统设计软件进行编程。同时新的控制器可运行Windows Embedded 7或NI Linux Real- Time操作系统,包含了32 GB非易失性存储和可移动SD存储,可帮助工程师开发更智能的数据记录和嵌入式监测应用。全新的USB 3.0 CompactDAQ机箱更可帮助用户将测量系统扩展到更高通道数的应用,而且不会降低数据传输速度。DIAdem 2015 64位软件可让用户加载和分析比以往更多的数据。 DataFinder 2015服务器版提供了多级查询功能,查询请求会发送到服务器全局,几秒钟内便可找到用户需要分析的数据。**LabVIEW 2015系统级设计软件更快速编写代码  LabVIEW**版提供了快速便捷开发方式和调试工具,将继续通过系统间的代码复用来标准化用户与几乎所有硬件的交互方式,从而帮助他们节省时间和成本,以适应技术的进步、需求的变化和日益增加的上市时间压力。LabVIEW 2015还可帮助用户以*短的时间学习软件设计的方法,进而快速开发强大、灵活、可靠的系统。“工业物联网将代表下一代工业革命,而且伴随着大数据的加入也将带来无穷的机遇。” NI 总裁、CEO和创始人Dr. James Truchard表示,“NI将帮助客户应对物联网发展所带来的挑战,承担链接物联网与大数据的中间角色,为客户提供切实的智能解决方案。”
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